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提升汽车电子部件的性能和可靠性：SIR表面绝缘电阻测试
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离子迁移检测仪——CAF试验
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在PCB可靠性长期测试项目中，很多测试失败并非PCB样品本身问题，而是测试硬件引入噪声、通道漏电、串扰，造成SIR高阻测试数据失真，出现大量假失效，带来不必要的复测成本。高阻SIR测试对线缆绝缘、开关单元漏电流控制要求较高，普通线
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很多研发工程师容易混淆SIR、CAF、RTC三类测试项目，PCB可靠性测试系统正是把三类检测能力集成的专业设备，用来评估印制电路板长期服役下的电气安全性能。PCB可靠性测试系统主要完成表面绝缘电阻SIR、导电阳极丝CAF离子迁移、
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